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プロテオーム解析用試薬 NTA-SAM Formation Reagent

<NTA-SAM 基板の特徴>
  1. タンパク質を His-Tag を介して固定化するため、固定化による変性の影響が少ない。
  2. イミダゾールや EDTA などで His-Tag と Ni-NTA 間の相互作用を解消することで His-Tag タンパク質を脱着することができる。(Fig. 3
  3. タンパク質の吸・脱着が可能なため基板の再利用が可能である。

 

 QCM (Quartz Crystal Microbalance : 水晶振動マイクロバランス)や SPR (Surface Plasmon Resonance : 表面プラズモン共鳴)等のバイオセンサーに SAM (Self-Assembled Monolayer : 自己組織化膜)を介してタンパク質を固定化する方法のひとつに Ni-NTA (Nitrilotriacetate : ニトリロ三酢酸)を介した His-Tag タンパク質固定化法 1) があります。この “His-Tag” 技術により、複雑な高次構造を持つタンパク質を、その活性を損なわずに固体表面に化学的に結合させることが可能になっています。
 QCM や SPR 以外にも活用されており、SELDI(Surface Enhanced-LDI)-TOF-MS 2) は、質量分析法である LDI(Laser Desorption/Ionization)-TOF(Time of Flight)- MS(Mass Spectroscopy)と NTASAM を組み合わせ、表面のタンパク質の検出や相互作用の検討が可能です。また、NTA 部位を有する金ナノ粒子を利用して、His-Tag タンパク質を粒子にコートし、目的タンパク質との相互作用を TEM (Transmission Electron Microscope)で高感度に観察する 3) など、NTA表面を利用した様々なアプリケーションが報告されております。
 小社では、表面カルボン酸とタンパク質などのアミノ基の結合反応を利用した方法(Carboxylic acid-SAM Formation Reagent : メーカーコード C488)や Biotin-Avidin の特異的で強力な結合を利用した方法(Biotin-SAM Formation Reagent : メーカーコード B564)でタンパク質を固定化できる製品をすでに販売しております。これらの製品は、タンパク質を効率的に固定化し、かつ非特異的吸着の少ない SAM を作製できるという特長があることから多くの方にご利用いただいております。更に、今回 His-Tag タンパク質を効率的に固定化し、非特異的吸着の少ないセンサーを作製するための NTA-SAM Formation Reagent を開発いたしました。 本製品には、表面にNTA部位が存在する SAM 形成試薬が含まれており、エタノールに溶解して金基板上にアプライするだけで NTA-SAM を金基板上に形成することができます。
 Fig. 1 に本試薬を用いて作製した SPR センサグラムを示します。 His-Tag を介し、タンパク質を特異的に結合させることができます。

参考文献

1) G. B. Sigal, C. Bamdad, A. Barberis, J. Strominger and G. M. Whitesides, “A self-assembled Monolayer for ther Binding and Study of Histidine-tagged Proteins by Surface Plasmon Resonance”, Anal. Chem., 1996, 68,
490.

2) T. W. Hutchens and T. T. Yip, “New Desorption Strategies for the Mass Spectrometric Analysis of Macromolecules”, Rapid Commun. Mass Spectrom., 1993, 7, 576.

3) T. Kitai, Y. Watanabe, Y. Y. Toyoshima, T. Kobayashi, T. Murayama, H. Sakaue, H. Suzuki and T. Takahagi, “Simple Method of Synthesizing Nickel-nitrilotriacetic Acid Gold Nanoparticles with a Narrow Size Distribution for Protein Labeling”, Japanese Journal of Applied Physics, 2011, 50, 095002-1.